Katedra Chemii Analitycznej i Biochemii
Opis techniczny: Wysokorozdzielczy spektrometr masowy (maksymalna rozdzielczość 240000) ze źródłami jonów ESI oraz nanoESI, wyposażony w kapilarny chromatograf cieczowy z dodatkowym pomiarem UV-VIS.
Słowa kluczowe: metabolomika m/z proteomika spektrometr masowy widmo masowe
Katedra Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych
Opis techniczny: Maszyna wytrzymałościowa Zwick/Roell Z150 pozwala na wykonywanie pomiarów przy maksymalnym obciążeniu do 150kN. W zależności od zastosowanego osprzętu można wykonywać pomiary przy zginaniu (trzy i czteropunktowe podparcie) ściskaniu czy rozciąganiu. Uchwyty do rozciągania umożliwiają badanie próbek płaskich oraz prętów o średnicach od 4 do 25mm.
Słowa kluczowe: granica plastyczności moduł Younga praca zniszczenia Wytrzymałość na rozciąganie Wytrzymałość na ściskanie wytrzymałość na zginanie
Katedra Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych
Opis techniczny: Analizatory różnicowej kalorymetrii skaningowej DSC, termicznej analizy różnicowej DTA, termograwimetrii TG, dyfuzyjności cieplnej metodą laserową oraz dylatometr wysokotemperaturowy.
Słowa kluczowe: ciepło właściwe DSC DTA dyfuzyjność cieplna dylatometria LFA przewodność cieplna rozszerzalność termiczna termoanaliza TG
Katedra Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych
Opis techniczny: Ultrawysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem z emisją polową (FEG– emiter SCHOTKYEGO), współpracujący z analizatorem EDS firmy EDAX. Zdolność rozdzielcza do 2 nm, powiększenia 70 – 500 000x.
Słowa kluczowe: analiza chemiczna EDS elemental analysishigh resolution microstructure mikrostruktura morfologia morphology SEM wysoka rozdzielczość
Katedra Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych
Opis techniczny: Olympus LEXT OLS4000 to mikroskop konfokalny o wysokiej rozdzielczości przeznaczony do obrazowania powierzchni 3D oraz pomiarów chropowatości. Powiększenie (optyczne i cyfrowe) tego mikroskopu mieści się w zakresie od 108x do 17 280x.
Słowa kluczowe: Mikroskop konfokalny Obrazowanie powierzchni 3D Profil powierzchni Szorstkość
Katedra Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych
Opis techniczny: Mikroskopy SEM z kolumnami elektronowymi (FEG) oraz jonową, galową – Scios 2. Do oprzyrządowania należą spektroskopy EDS (EDAX), katodoluminescencyjny (GATAN AMETEK) oraz masowy jonów wtórnych z pomiarem czasu przelotu – TOF-SIMS. Urządzenia posiadają szeroki wachlarz detektorów półprzewodnikowych i scyntylacyjnych, w tym między innymi detektor do trybu STEM. Zawierają optykę elektrostatyczną i magnetyczną.
Słowa kluczowe: CL ebsd ECCI EDS kolumna jonowa mikrostruktura morfologia SEM STEM TOF-SIMS